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标准列表

硅多晶真空区熔基硼检验方法
关键词：GB/T 4060-2007
摘　要： 本标准适用于多晶硅沉积在硅芯上生长的多晶硅棒基硼的检验。

硅多晶气氛区熔基磷检验方法
关键词：GB/T 4059-2007
摘　要： 本标准适用于多晶硅沉积在硅芯上生长的多晶硅棒基磷的检验。

硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
关键词：GB/T 4058-2009
摘　要： 本标准规定了硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法。本标准适用于硅抛光片表面区在模拟器件氧化工艺中诱生或增强的晶体缺陷的检测。硅单晶氧化诱生缺陷的检验也可参照此方法。

绝缘子串元件的球窝连接尺寸
关键词：GB/T 4056-2008
摘　要： 本标准适用于盘形和长棒形绝缘子串元件及其金属附件。

红色合成刚玉
关键词：GB/T 4051-2013
摘　要：

计时仪器　手表壳与表带连接部位的尺寸系列
关键词：GB/T 4048-2008
摘　要： 本标准规定了用弹簧表带栓将表带连接到表壳上的尺寸。本标准适用于两种类型的表壳和三种类型的弹簧表带栓。

具有摆轮游丝振荡系统的精密手表
关键词：GB/T 4032-2013
摘　要：

计时仪器的检验位置标记
关键词：GB/T 4028-2013
摘　要：

人机界面标志标识的基本和安全规则　设备端子和导体终端的标识
关键词：GB/T 4026-2010
摘　要： 本标准适用于如电阻、熔断器、继电器、导体、变压器、旋转机械及类似电气设备组合的端子的标识与标志。本标准也适用于某些特定导体的端子标识。本标准还包括了字母数字系统的一般规则。

人机界面标志标识的基本和安全规则　指示器和操作器件的编码规则
关键词：GB/T 4025-2010
摘　要： 本标准对指定某些视觉、听觉和触觉标识的特定含义建立了一般规则。

半导体器件　分立器件和集成电路　第2部分：整流二极管
关键词：GB/T 4023-2015
摘　要：

卧轴矩台平面磨床　精度检验　第1部分：工作台面长度至1　600　mm的机床
关键词：GB/T 4022.1-2007
摘　要： 本标准的本部分规定了一般用途和普通精度的工作台面长度至1600mm卧轴矩台平面磨床的几何精度检验和工作精度检验以及相应的允差.

卧式车床精度检验
关键词：GB/T 4020-1997
摘　要：

方柱立式钻床　精度检验　第2部分：工作精度检验
关键词：GB/T 4019.2-1997
摘　要：

方柱立式钻床　精度检验　第1部分：几何精度检验
关键词：GB/T 4019.1-1997
摘　要：

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